- Tytuł:
- Two-level approach for solving the inverse problem of defects identification in Eddy Current Testing - type NDT
- Autorzy:
-
Putek, P.
Crevecoeur, G.
Slodička, M.
Gawrylczyk, K.M.
Van Keer, R.
Dupré, L. - Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Tematy:
-
charakterystyka wad
elektromagnetyczny problem odwrotny
problem odwrotny
algorytmy optymalizacji
algorytmy dwupoziomowe
badanie wiroprądowe
analiza wrażliwości
defect characterization
electromagnetic inverse problem
two level optimization algorithms
eddy current testing method
sensitivity analysis - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł