- Tytuł:
- Modeling of negative bias temperature instability
- Autorzy:
-
Grasser, T.
Selberherr, S. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
reliability
negative bias temperature instability
modeling
simulation
hydrogen
silicon dioxide
defects
interface states
semiconductor device equations - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł