Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measurement processing" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Ograniczenia wirtualnego miernika RLC zrealizowanego na układzie AD9533
The limitations of virtual RLC meter based on AD5933 circuit
Autorzy:
Hoja, J.
Kiwilszo, M.
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
pomiar impedancji
pomiary elementów RLC
cyfrowe przetwarzanie sygnału
impedance measurement
RLC measurement
digital signal processing
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
The limitations of virtual impedance meter based on a data acquisition card
Autorzy:
Hoja, J.
Lentka, G.
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar impedancji
pomiary elementów RLC
karta akwizycji danych
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
impedance measurement
RLC measurement
data acquisition card
digital signal processing
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej z wykorzystaniem CPS
High impedance spectroscopy analyzer using DSP
Autorzy:
Hoja, J.
Lentka, G.
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar impedancji
spektroskopia impedancyjna
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
impedance measurement
impedance spectroscopy
digital signal processing
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The method of obtaining the spectral characteristics of the scanning probe microscope
Sposób uzyskania charakterystyki widmowej sondy skanującej mikroskopu
Autorzy:
Kataieva, Mariia
Kvasnikov, Vladimir
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
nano-measurement
digital signal processing
scanning probe microscope
Fourier transform
nano-pomiar
cyfrowe przetwarzanie sygnału
mikroskop z sondą skanującą
transformata Fouriera
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies