- Tytuł:
- Granularity dependency of forecast accuracy in semiconductor industry
- Autorzy:
-
Ott, H., C.
Heilmayer, S.
Sng, C. S. Y. - Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
semiconductor
forecast accuracy
granularity
planning
Infineon Technologies
UniSIM - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki