Wszystkie pola: interferometry method

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Theoretical analysis of a new approach to order determination for a modified Prony method in swath mapping application
Autorzy:: Grall, P.
Marszal, J.
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Polskie Towarzystwo Akustyczne
Tematy:: swath bathymetry
interferometry
principal components
DOA
MBES; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Niepewność pomiaru długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym komparatorze interferencyjnym
The uncertainty of measurement of long gauge blocks with a modernized interferometric comparator
Autorzy:: Szumski, R.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: długie płytki wzorcowe
interferencja
światło białe
metoda reszt ułamkowych
niepewność pomiaru
end standards
long gauge blocks
interferometry
method of exact fractions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Pomiary długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym stanowisku pomiarowym z interferometrem laserowym
Calibration of long gauge blocks using the modernized setup with a laser interferometer
Autorzy:: Szumski, R.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: wzorce końcowe
długie płytki wzorcowe
komparator interferencyjny
interferencyjna metoda reszt ułamkowych
end standards
long gauge blocks
interferometry
method of exact fractions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Pomiary naprężeń w strukturach MOS metod interferencyjną i za pomocą elipsometrii spektroskopowej
Stress determination of MOS structures by interference and spectroscopic ellipsometry method
Autorzy:: Borowicz, L. K.
Borowicz, P.
Rzodkiewicz, W.
Piskorski, K.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: struktury MOS
naprężenie
interferometria
elipsometria
parametry elektryczne
Metal Oxide Semiconductor
MOS structures
stress
interferometry
ellipsometry
electrical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja