Temat: systemy embedded - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
Transient fault simulation in a satellite microcontroller
Autorzy:: Iwiński, M.
Sosnowski, J.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded systems
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Gas-flow computer with SBST
Komputerowy przelicznik przepływu gazu z wbudowanym SBST
Autorzy:: Mosdorf, M.
Grochowski, K.
Sosnowski, J.
Gawkowski, P.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded systems
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
Overview of the Laboratory Workstation Solutions Used during Remote Learning
Autorzy:: Raczyński, Michał
Biedka, Andrzej
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:: nauka zdalna
układy elektroniczne
systemy wbudowane
mikrokontrolery
remote teaching
electronic circuits
embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
Autorzy:: Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja