- Tytuł:
- Variation Analysis of CMOS Technologies Using Surface-Potential MOSFET Model
- Autorzy:
-
Mattausch, H. J.
Yumisaki, A.
Sadachika, N.
Kaya, A.
Johguchi, K.
Koide, T.
Miura-Mattausch, M. - Data publikacji:
- 2009
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
compact model
fabrication inaccuracy
field-effect transistor
macroscopic
microscopic
potential at channel surface
silicon
within wafer - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł