Temat: microelectronics - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wpływ najnowszych osiągnięć mikroelektroniki oraz nanotechnologii na bezpieczeństwo procesów przemysłowych
The influence of recent microelectronics and nanotechnology research for industrial processes safety
Autorzy:: Nowrot, A.
Joostberens, J.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Śląska. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Tematy:: nanotechnologia
czujniki
mikroelektronika
nanotechnology
sensors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Spectral Range of IR Camera for Research in Microelectronics
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Application of Thermography in Non Destructive Testing and microelectronics
Autorzy:: Więcek, B. [et al.]
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Strength analysis of solder joints used in microelectronics packaging
Badania wytrzymałości połączeń lutowanych stosowanych w montażu w mikroelektronice
Autorzy:: Wymysłowski, Artur
Jankowski, Krystian
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:: microelectronics
solder alloys
reliability
damage accumulation
mikroelektronika
stopy lutownicze
niezawodność
kumulacja uszkodzeń; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Komparator do generacji znaczników czasowych w układach odczytowych dla detektorów paskowych
Discrininator for timestamping in strip detector readout integrated circuits
Autorzy:: Kasiński, K.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: komparator
wielokanałowe układy scalone
detektory paskowe
mikroelektronika
discriminator
multichannel integrated circuits
strip detectors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Teraz Bio-chipy!
Autorzy:: Wegrzyn J
Skiba E.
Tematy:: mikroelektronika
DNA-chipy
zastosowanie
inzynieria genetyczna
bio-chipy
biotechnologia
microelectronics
chip DNA
application
genetic engineering
bio-chip
biotechnology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

Szczegóły

Informacja