- Tytuł:
- Defect Detection Using Deep Learning-Based YOLOv3 in Cross-Sectional Image of Additive Manufacturing
- Autorzy:
-
Choi, Byungjoo
Choi, Yongjun
Lee, Moon-Gu
Kim, Jung-Sub
Lee, Sang-Won
Jeon, Yongho - Data publikacji:
- 2021
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Tematy:
-
additive manufacturing
deposition defect
data augmentation
YOLOv3
object detection - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki