- Tytuł:
-
System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych
Test system for the silicon strip detector readout application-specific integrated circuits - Autorzy:
- Kasiński, K.
- Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
- Tematy:
-
system pomiarowy
specjalizowane układy scalone
testowanie
measurement system
application-specific integrated circuits
test - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki