- Tytuł:
-
Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice - Autorzy:
-
Sikora, A.
Bednarz, Ł. - Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł