- Tytuł:
- Analiza dokładności metod optycznego skanowania 3D
- Autorzy:
-
Derejczyk, K.
Siemiński, P. - Data publikacji:
- 2016
- Słowa kluczowe:
-
skaner 3D
pomiar
odchyłki
3D scanner
measurement
deviation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.