- Tytuł:
- Charakterystyka AFM cienkich warstw SnO2 uzyskanych podczas sputteringu magnetronowego przy wybranych warunkach procesu
- Autorzy:
-
Grudniewski, T.
Lubańska, Z.
Czernik, S. - Data publikacji:
- 2015
- Słowa kluczowe:
-
tlenek cyny
cienka warstwa
elektroda przezroczysta
sputtering magnetronowy
warunki procesu
AFM
tin oxide
thin film
transparent electrode
magnetron sputtering
process conditions - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł