Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "microscope image analysis" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Predicting properties of PVD and CVD coatings based on fractal quantities describing their surface
Autorzy:
Kwaśny, W.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
cienka powłoka
gruba powłoka
powłoka CVD
powłoka PVD
analiza obrazu
analiza fraktalna
analiza multifraktalna
analiza rentgenowska
mikroskop AFM
thin coating
thick coating
PVD coating
CVD coating
image analysis
fractal analysis
multifractal analysis
X-ray analysis
AFM microscope
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies