Wszystkie pola: substrate thickness

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3 substrate by FT-IR spectroscopy
Autorzy:: Możdżonek, Małgorzata
Caban, Piotr .A.
Gaca, Jarosław
Wójcik, Marek
Piątkowska, Anna
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: h-BN layers
ATR
IRR
XRR
thickness measurement
Al2O3
warstwy h-BN
pomiar grubości; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wyznaczanie grubości warstw BN na podłożu Al2O3 za pomocąspektroskopii FT-IR
Materiały Elektroniczne
Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3substrate by FT-IR spectroscopy
Autorzy:: Piątkowska Anna
Możdżonek Małgorzata
Wójcik Marek
Gaca Jarosław
Caban Piotr
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Łukasiewicz – ITME
Słowa kluczowe:: h-BN layers
IRR
ATR
thickness measurement
Al2O3
XRR
Materiały elektroniczne
pomiar grubości
ITR
Elektronika - czasopismo - materiały
warstwy h-BN; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja