- Tytuł:
- Local temperature rise during the electron beam characterization Calculation model for the AlxGa1-xN at low dimensions
- Autorzy:
-
Leghrib, L
Nouiri, A. - Data publikacji:
- 2018
- Słowa kluczowe:
-
semiconductors
aluminum gallium nitride
AlGaN
scanning electron microscope
SEM
thermal effects - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł