- Tytuł:
- Wykorzystanie testów symetrycznych w transparentnym testowaniu pamięci RAM
- Autorzy:
- Mrozek, I.
- Data publikacji:
- 2012
- Słowa kluczowe:
-
testowanie pamięci
transparentne testy pamięci
testy krokowe
symetryczne testy pamięci
BIST
memory testing
transparent memory tests
step tests
symmetric memory tests
BIST built-in-self test - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł