- Tytuł:
- Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych µBIST
- Autorzy:
-
Kowalewski, M.
Zielonko, R. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
diagnostyka uszkodzeń układów analogowych
uszkodzenia parametryczne
sieci neuronowe
testery wbudowane
analog circuits fault diagnosis
parametric faults
neural networks
Built-in Self-Testers - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł