- Tytuł:
- Energy concepts involved in MOS characterization
- Autorzy:
-
Engström, O.
Gutt, T.
Przewłocki, H. M. - Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
C-V technique
capture cross sections
interface states
Meyer-Neldel rule
MOS
thermally stimulated current - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech