Wszystkie pola: Kisielewski, Jarosław

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: B-BaB2O4 single crystals obtained by Czochralski method
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 1
Autorzy:: Łukasiewicz Tadeusz
Współwytwórcy:: Łuczyński Zygmunt
Sass Jerzy
Kisielewski Jarosław
Data publikacji:: 1994
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: single crystal
Czochralski method
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
kryształ laserowy
metoda Czochralskiego
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Techniczne problemy krystalizacji metodą Czochralskiego = Technical problems with Czochralski method crystalization
Techniczne problemy krystalizacji metodą Czochralskiego
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 3
Autorzy:: Łukasiewicz Tadeusz
Współwytwórcy:: Łuczyński Zygmunt
Łuczyński, Zygmunt.
Kisielewski Jarosław
Data publikacji:: 1994
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Czochralski method
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
metoda Czochralskiego
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)
Badanie struktury defektowej w nowych rodzajach scyntylacyjnych monokryształów mieszanych granatów lutetowo-itrowo-glinowych [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG) niedomieszkowanych oraz aktywowanych prazeodymem
Electronic Materials T. 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Malinowska Agnieszka
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Drozdowski Winicjusz
Romaniec, Magdalena
Kisielewski Jarosław
Wierzbicka Edyta
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
metoda Czochralskiego
mieszane granaty lutetowo-itrowo-glinowe
materiały scyntylacyjne
mixed lutetium-yttium-aluminum garnets
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
scintillator crystals; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja