- Tytuł:
- Mikro- i nanoanaliza materiałów przy pomocy technik EELS, EFTEM oraz tomografii w wysokorozdzielczym mikroskopie s/tem - podstawy, wymagania, przegląd literatury i przygotowanie do wdrożenia w IMŻ
- Autorzy:
-
Arabasz, S.
Wojtas, J.
Maciosowski, A.
Wiedermann, J. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
analiza
technika EELS
technika EFTEM
tomografia
mikroskop S/TEM
wdrożenie
analysis
EELS
EFTEM
tomography
S/TEM microscope
implemetation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł