- Tytuł:
-
Prace ITME 1994 z. 44
Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych
Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych = The study of single crystals and epitaxial layers with the use synchrotron radiation and simulation of diffraction images - Autorzy:
- Wierzchowski Wojciech
- Data publikacji:
- 1994
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
Si
Elektronika - czasopismo - materialy
Materiały elektroniczne
Electronic materials
topografia synchrotronowa
AIIIBV
synchrotron topography
Electronic - journal - material - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka