Wszystkie pola: metoda layer-by-layer

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR
Materiały Elektroniczne 1982 nr 1(37)
Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR = Investigation of thin magnetic films by FMR method
Autorzy:: Jabłoński Ryszard
Współwytwórcy:: Sarnecki Jerzy
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: cienka warstwa
magnetic garnet
granat magnetyczny
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
thin layer technology
Electronic - journal - materials
FMR
Elektronika - czasopismo - materiały
FMM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne1983 nr 4(44)
Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej = Measurements of the epitaxial layers parameters by means of C-V method with Hg probe
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej
Autorzy:: Brzozowski Andrzej
Współwytwórcy:: Szymkiewicz Andrzej
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
złącze prostujące metal-półprzewodnik
metal-semiconductor rectifier contact
epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda C-V
Electronic - journal - materials
C-V method
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie rozkładu grubości emisji światłoczułych naniesionych na płyty metodą kontrolowanego wyciągania = Investigations of the thickness distribution of a light-sensitive emulsion layer, deposited on the plate by dip-coating technique
Materiały Elektroniczne 1982 nr 2(38)
Badanie rozkładu grubości emisji światłoczułych naniesionych na płyty metodą kontrolowanego wyciągania
Autorzy:: Blinkow Wiktor
Współwytwórcy:: Szadkowski Krzysztof
Cendrowski Sławomir
Mrówczyński Jacek
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: light sensitive emulsion
emisja światłoczuła
dip coating technique
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda kontrolowanego wyciągania
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 4
Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001] = Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate
Autorzy:: Wójcik Marek
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: diffraction
HR XRD
implantacja jonowa
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
HRXRD
ion implantation
dyfrakcja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography
Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)
Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
X-ray reflection topography
epitaxial Si layer
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dyslokacja
rentgenowska topografia odbiciowa
dislocation
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metoda chemicznego barwienia
Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metoda chemicznego barwienia = Identification of position of the n+n and p+p LH junctions in epitaxial SiC layers by chemical decoration
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 2
Autorzy:: Przyborowska Krystyna
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: SiC
chemical decoration
thickness of epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
chemiczne barwienie
grubość warstwy epitaksjalnej
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja