Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "X-ray diffraction study" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi = X-ray examination method of solid state band structure, based on the example of copper
Autorzy:
Badzian Andrzej
Współwytwórcy:
Kłokocki Andrzej
Data publikacji:
1981
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
promieniowanie rentgenowskie
Cu
struktura pasmowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bad structure
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
X-ray diffraction study
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies