Wszystkie pola: photoinduced spectroscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Dwuwymiarowość widm w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej =Two-dimensional spectra in photoinduced transient spectroscopy
Materiały Elektroniczne 2000 T.28 nr 1/2
Dwuwymiarowość widm w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
Autorzy:: Pawłowski Michał
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: two-dimensional spectra
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
spektroskopia fotoprądowa
photoinduced spectroscopy
dwuwymiarowość widm
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Error analysis of the parameters of the defect centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 2
Autorzy:: Pawłowski, Michał.
Pawłowski Michał
Współwytwórcy:: Suproniuk Marek
Suproniuk, Marek.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: semi-insulating material
PITS
adekwatność modelu
Electronic - materials
model adequacy
Materiały elektroniczne
półprzewodnik wysokorezystywny
Electronic - journal - materials
centrum defektowe
Elektronika - czasopismo - materiały
defect center; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. = High resolution photoinduced transient spectroscopy as a new characterization method of defect centres in high resistivity semiconductors
Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. Rozprawa doktorska
Autorzy:: Kozłowski Roman
Współwytwórcy:: Kamiński, Paweł. Promotor.
Data publikacji:: 2001
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: deep level
Elektronika - materiały
defect center
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
cntrum defektowe
HRPITS
SI INP
poziom głęboki
SI InP
SI GaAs
SI Si; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2001 T.29 nr 3/4
Zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowymi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowymi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Application of the correlation procedure with multipulse weighting functions to the two-dimensional spectral analysis in photoinduced transient spectroscopy PITS
Autorzy:: Pawłowski Michał
Współwytwórcy:: Miczuga Marcin
Data publikacji:: 2001
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: PITS
analiza widmowa
correlation procedure
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
spektroskopia fotoprądowa
metoda PITS
spectral analysis
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja