- Tytuł:
-
Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. = High resolution photoinduced transient spectroscopy as a new characterization method of defect centres in high resistivity semiconductors
Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. Rozprawa doktorska - Autorzy:
- Kozłowski Roman
- Współwytwórcy:
- Kamiński, Paweł. Promotor.
- Data publikacji:
- 2001
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
deep level
Elektronika - materiały
defect center
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
cntrum defektowe
HRPITS
SI INP
poziom głęboki
SI InP
SI GaAs
SI Si - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych