- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne1983 nr 4(44)
Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej = Measurements of the epitaxial layers parameters by means of C-V method with Hg probe
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej - Autorzy:
- Brzozowski Andrzej
- Współwytwórcy:
- Szymkiewicz Andrzej
- Data publikacji:
- 1984
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
warstwa epitaksjalna
złącze prostujące metal-półprzewodnik
metal-semiconductor rectifier contact
epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda C-V
Electronic - journal - materials
C-V method
Elektronika - czasopismo - materiały - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka