- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne 1974 nr 5
Zastosowanie transmisyjnej topografii rentgenowskiej w nierównoległym układzie spektrometru dwukrystalicznego do badania homoepitaksjalnych warstw Si = Application of transmission X-ray topography in the non-parallel system of biocrystal spectrometer for homoepitaxial Si layers investigations
Zastosowanie transmisyjnej topografii rentgenowskiej w nierównoległym układzie spektrometru dwukrystalicznego do badania homoepitaksjalnych warstw Si - Autorzy:
- Sass Jerzy
- Data publikacji:
- 1974
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
Si
transmisyjna topografia rentgenowska
transmission x-ray topography
Materiały elektroniczne
Electronic- materials
Electronic - journal - materials
warstwa homoepitaksjalna
homoepitaxial Si layer
Elektronika - czasopismo - materiały - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka