Wszystkie pola: material parameters

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Influence of material properties on parameters of silicon solar cells = Wpływ właściwości materiałowych na parametry eksploatacyjne krzemowych ogniw słonecznych
Influence of material properties on parameters of silicon solar cells
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 4
Autorzy:: Swatowska Barbara
Współwytwórcy:: Całko Grzegorz
Stapiński Tomasz
Całko Grzegor
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: ogniwo słoneczne
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon solar cell
ARC
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y
Prace ITME 1979 z. 2
Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y = Device enduring the presentation of results of Hall parameters measurements using an X-Y recorder
Autorzy:: Matusewicz Stefan
Data publikacji:: 1979
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: semiconductor
półprzewodnik
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
napięcie Halla
Electronic - journal - material
Hall Voltage; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part II
Prace ITME 1982 z. 5
Prace ITME1982 z. 5
Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II
Autorzy:: Szymański Dariusz
Współwytwórcy:: Szczytko Barbara
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: parametr aplikacyjny
Elektronika - czasopismo - materiały
pasta dielektryczna
warstwa gruba
Materiały elektroniczne
Electronic materials
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych = Some problems of improvement of geometrical parameters of polished silicon wafers
Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych
Prace ONPMP 1978 z. 2
Proceedings of ONPMP 1978 z. 2
Autorzy:: Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:: Bielecki Krzysztof
Czerwińska Anna
Data publikacji:: 1978
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: parametr geometryczny
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
geometrical parameter
polished silicon wafer
polerowana płytka krzemowa
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Prace ITME1982 z. 4
Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. 1
Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part I
Prace ITME 1982 z. 4
Autorzy:: Szymański Dariusz
Współwytwórcy:: Szczytko Barbara
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: dielectric paste
Elektronika - czasopismo - materiały
pasta dielektryczna
test patlern
warstwa gruba
Materiały elektroniczne
Electronic materials
test pomiarowy
thick film resistor
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Error analysis of the parameters of the defect centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 2
Autorzy:: Pawłowski, Michał.
Pawłowski Michał
Współwytwórcy:: Suproniuk Marek
Suproniuk, Marek.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: semi-insulating material
PITS
adekwatność modelu
Electronic - materials
model adequacy
Materiały elektroniczne
półprzewodnik wysokorezystywny
Electronic - journal - materials
centrum defektowe
Elektronika - czasopismo - materiały
defect center; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Proceedings of ONPMP 1975 nr 5
Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of selected metallic contamination impurities on some electrical parameters and structural perfection of silicon epitaxial layers
Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych
Prace ONPMP 1975 nr 5
Autorzy:: Wiraszka Marek
Współwytwórcy:: Schab Krzysztof
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
perfekcja strukturalna
metallic impurity
Materiały elektroniczne
zanieczyszczenie niemetaliczne
Si epitaxial layer
Electronic materials
parametr elektroniczny
electrical parameter
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja