- Tytuł:
- Ekonomiczny model badań niezawodnościowych goi
- Autorzy:
-
Yang, S. F.
Chien, K. W-T - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
minimalny rozmiar próbki
badanie V-Ramp
gęstość defektów
próbkowanie losowe
rozkład dwumianowy
granice przedziału ufności
GOI
Gate Oxide Integrity
nienaruszony stan tlenku bramkowego
minimum sample size
V-Ramp test
GOI (Gate Oxide Integrity)
defect density
random sampling
binomial distribution
confidence bounds - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł