- Tytuł:
- Uszkodzenia półprzewodnikowych przyrządów mocy w warunkach eksploatacyjnych
- Autorzy:
-
Januszewski, S.
Kociszewska-Szczerbik, M.
Świątek, H.
Zymmer, K. - Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
PPM
sygnałowe przyrządy mocy
analiza uszkodzeń
diody prostownicze
tyrystory SCR
GTO
tranzystory IGBT
PSD
power signal devices
fallure analysis
rectifer diodes
thyristors SCR
transistors IGBT - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł