- Tytuł:
- Imaging of defects on Ge(001):H by non-contact atomic force microscopy
- Autorzy:
-
Such, Bartosz
Szymoński, Marek
Budzioch, Janusz
Wojtaszek, Mateusz
Godlewski, Szymon
Lis, Jakub
Kolmer, Marek - Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Springer
- Słowa kluczowe:
-
surface defect
Ge(001)
NC-AFM - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne