- Tytuł:
- Badanie właściwości wybranych modeli tranzystorów bipolarnych z izolowaną bramką
- Autorzy:
-
Górecki, P.
Górecki, K.
Zarębski, J. - Data publikacji:
- 2017
- Słowa kluczowe:
-
IGBT
SPICE
modelowanie
półprzewodnikowe przyrządy mocy
modeling
power semiconductor devices - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech