- Tytuł:
- A modified model of electronic device reliability prediction
- Autorzy:
-
Zeng, S.
Sun, B.
Tong, Ch. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
prognozowanie niezawodności
modyfikacja modelu
fizyka uszkodzeń
urządzenie elektroniczne
test K-S
testy cenzurowania losowego
reliability prediction
model modification
physics of failure
electronic device
K-S test
random censored tests - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł