- Tytuł:
- System for the potential map of metal and semiconductor surfaces monitoring
- Autorzy:
-
Tyavlovsky, A.
Zharin, A. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
różnica potencjałów kontaktowych
sonda Kelvina
mapa potencjałów
oprogramowanie i osprzęt systemu
contact potential difference
Kelvin probe
potential map
software-and-hardware system - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł