- Tytuł:
- Modelowanie numeryczne rozpływu elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym o zmiennym ciśnieniu
- Autorzy:
-
Krysztof, M.
Słówko, W. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
symulacje Monte Carlo
VP SEM
detekcja elektronów wtórnych
Monte Carlo simulation
variable pressure scanning electron microscopy (VP SEM)
secondary electron detection - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł