Temat: Elipsometria - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-3 z 3

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Characterization of a-C:N:H, a-SiNx:H and a-SiCx:Ny:H layers deposited on various substrates
Autorzy:: Dyndał, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: PACVD
amorphous layer
spectroscopic ellipsometry
optical properties
warstwy amorficzne
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Termooptyczne właściwości warstw a-C:N:H
Autorzy:: Tkacz-Śmiech, K.
Jaglarz, J.
Pieczyńska, E.
Marszałek, K.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: warstwy a-C:N:H
PACVD
elipsometria spektroskopowa
współczynniki termooptyczne
a-C:N:H layers
ellipsometry
thermo-optical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Otrzymywanie i właściwości warstw a-Si:H do zastosowań w fotowoltaice
Autorzy:: Pieczyńska, E.
Boszkowicz, P.
Jurzecka-Szymacha, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: amorficzny krzem (a-Si:H)
Plasma Assisted Chemical Vapour Deposition PACVD
PACVD
elipsometria
Amorphous silicon layers
Radio Frequency Plasma Assisted Chemical Vapour Deposition
RF PACVD
solar cells
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-3 z 3

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Temat