- Tytuł:
- Skala mikro i nano Nowe możliwości w Zakładzie Metrologii i Systemów Pomiarowych
- Autorzy:
-
Wieczorowski, Michał
Gapiński, Bartosz
Talar, Rafał
Stachowska, Ewa
Jakubowicz, Michał
Grochalski, Karol
Kucharski, Dawid
Marciniak-Podsadna, Lidia
Mietliński, Patryk
Swojak, Natalia - Data publikacji:
- 2024
- Słowa kluczowe:
-
laboratorium pomiarowe
metrologia 4.0
Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
Politechnika Poznańska
skaningowa interferometria koherentna
mikroskopia różnicowania ogniskowego - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł