- Tytuł:
- Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej
- Autorzy:
-
Bramowicz, M.
Kłysz, S. - Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia sił atomowych AFM
analiza fraktalna
RMS
steksturowanie powierzchni
anizotropia powierzchni
samopodobieństwo
samoafiniczność
atomic force microscopy (AFM)
fractal analysis
root mean square (RMS)
surface texture
surface anisotropy
self-similarity
self-affinity - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł