- Tytuł:
- High-field current transport and charge trapping in buried oxide of SOI materials under high-field electron injection
- Autorzy:
-
Nazarov, A.N.
Houk, Y.
Kilchytska, V.I. - Data publikacji:
- 2004
- Słowa kluczowe:
-
Fowler-Nordheim current
trap-assisted tunneling
silicon-on-insulator
buried oxide
SIMOX
UNIBOND
anode hole injection
band-to-band impact ionization - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł