- Tytuł:
- Zastosowanie mikroskopii skaningowej do inspekcji układów elektronicznych wykonanych w technologii SMT
- Autorzy:
-
Bużantowicz, M.
Bużantowicz, W. - Data publikacji:
- 2013
- Słowa kluczowe:
-
skaningowa mikroskopia elektronowa
montaż powierzchniowy
scanning electron microscopy
SEM
surface mount technology (SMT)
SMT - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech