- Tytuł:
- Opracowanie submikronowego tranzystora testowego typu FinFET
- Autorzy:
-
Zaborowski, M.
Kucharski, K.
Tomaszewski, D.
Panas, A.
Budzyński, T.
Grabiec, P. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
Multi-Gate Transistor
Si nanowire
FinFET
PADEOX - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł