- Tytuł:
- Badania właściwości fizycznych warstwy SiO2 pod bramką aluminiową
- Autorzy:
-
Borowicz, L.
Rzodkiewicz, W.
Kulik, M.
Borowicz, P. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
SiO2
interferencja
rozpraszanie ramanowskie
bramka Al
współczynnik załamania
naprężenia
interference
Raman scattering
Al gate
refractive index
stresses - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł