- Tytuł:
- Reciprocal lattice mapping of InGaAs layers grown on InP (001) and GaAs (001) substrates
- Autorzy:
-
Bąk-Misiuk, J.
Kaniewski, J.
Domagała, J.
Regiński, K.
Adamczewska, J.
Trela, J. - Data publikacji:
- 1999
- Słowa kluczowe:
-
InGaAs
molecular beam epitaxy
X-ray diffraction
diffuse scattering - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł