- Tytuł:
- Etching and ellipsometry studies on CL-VPE grown GaN epilayer
- Autorzy:
- Puviarasu, P.
- Data publikacji:
- 2017
- Słowa kluczowe:
-
gallium nitride
vapor phase epitaxy
acid etching
optical microscope
ellipsometry - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech