Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "dynamic force microscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
Autorzy:
Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:
2013
Słowa kluczowe:
mikroskop sił atomowych dynamiczny
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies