- Tytuł:
- Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
- Autorzy:
- Toczek, W.
- Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech