- Tytuł:
- Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
- Autorzy:
-
Golonek, T.
Chruszczyk, Ł. - Data publikacji:
- 2020
- Słowa kluczowe:
-
analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł