- Tytuł:
- Machine Learning-based selection of measurement technique for surface metrology: a pilot study
- Autorzy:
-
Kucharski, Dawid
Gapiński, Bartosz
Wieczorowski, Michał
Gąska, Adam
Sładek, Jerzy
Kowaluk, Tomasz
Rępalska, Marta
Tomasik, Jan
Stępień, Krzysztof
Makieła, Włodzimierz
Nawotka, Michał
Ślusarski, Łukasz - Data publikacji:
- 2024
- Słowa kluczowe:
-
artificial intelligence
machine learning
surface metrology
data processing
coordinate measuring machine - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł