Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "atomic force microscope" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
The application of modern microscopic technique for dialysers membrane evaluation
Zastosowanie nowoczesnych technik mikroskopowych w badaniach własności kapilar dializatorów
Autorzy:
Pietrzyk, Jacek
Kowal, Andrzej
Nowak, Stanisław
Nowogrodzka-Zagórska, Maria
Krawentek, Lidia
Drożdż, Maciej
Sułowicz, Władysław
Bal, Wojciech
Data publikacji:
2000
Słowa kluczowe:
skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)
scanning electron microscope (SEM)
hollow fiber dialyzer
atomic force microscope (AFM)
skaningowy mikroskop próbkujący (SPM)
scanning probe microscope (SPM)
nanostruktura
nanostructure
atomowy mikroskop siłowy (AFM)
dializator kapilarny
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł
Tytuł:
Wpływ stereometrycznych parametrów powierzchni elementów ceramicznych na charakterystyki tribologiczne skojarzeń ceramiczno-polimerowych
Autorzy:
Kalbarczyk, M.
Data publikacji:
2007
Słowa kluczowe:
endoproteza
materiały ceramiczne
mikroskop sił atomowych (AFM)
tester tribologiczny
tester typu trzpień-płytka
stereometryczne parametry chropowatości powierzchni
endoprosthesis
ceramics materials
atomic force microscope (AFM)
pin-on-flat testing machine
3D surface parameters
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies